CS系列電化學(xué)工作站由高速M(fèi)CU、FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）化、動(dòng)電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計(jì)、電化學(xué)噪聲（電偶電流）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測(cè)試等功能，測(cè)量功能均可定時(shí)自動(dòng)進(jìn)行，用于無人值守下的自動(dòng)測(cè)量。
CS系列包括多種型號(hào)，可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±5.0A；電流測(cè)量下限為10pA。
CorrTest
TM 測(cè)試軟件是CS電化學(xué)工作站的控制平臺(tái)，軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與的電化學(xué)術(shù)語保持一致，中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研工作。
CorrTest
TM 測(cè)試軟件還具有特別針對(duì)材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，包括鈍化曲線自動(dòng)或人工反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測(cè)量和補(bǔ)償法。Corrtest
TM 分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對(duì)伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算，能對(duì)化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，包括化電阻R
p，Tafel斜率b
a，b
c，腐蝕電流密度i
corr，腐蝕速率計(jì)算等，還可計(jì)算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學(xué)工作站部采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊，設(shè)備安裝簡(jiǎn)單，即插即用。
外形尺寸：36.5cm(寬)
*30.5cm(深)
*16cm(高) 儀器重量：6.5Kg
應(yīng)用領(lǐng)域
1) 研究電化學(xué)機(jī)理；物質(zhì)的定性定量分析；
2) 常規(guī)電化學(xué)測(cè)試，包括電合成、電沉積(電鍍)性能評(píng)價(jià)；
3) 功能和能源材料(電池、超電容器、納米材料、生物傳感器等)的機(jī)理和制備研究；
4) 緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)以及氫滲測(cè)試等；
5) 金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)(包括水/混凝土/土壤等環(huán)境)中的腐蝕電化學(xué)測(cè)試。
儀器配置
1) 儀器主機(jī)1臺(tái) 2) CorrTest測(cè)試與分析軟件1套
3) 電解池(含鹽橋和排氣管)1套 4) 鉑金電、參比電、工作電1支
5) 模擬電解池1個(gè) 6) 電源線/USB數(shù)據(jù)線1條
7) 電電纜線1根 8) 電架 (選配*)
9) 屏蔽箱 (選配*)
指標(biāo)與功能方
硬件參數(shù)指標(biāo)
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恒電位電位控制范圍：±10V
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恒電流控制范圍：±5.0A
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電位控制度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV
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電流控制度：0.1%×滿量程讀數(shù)
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電位靈敏度：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)
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電流靈敏度：<10pA
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電位上升時(shí)間：<1mS(<10mA),
<10mS(<2A),<20mS(>2A)
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電流量程：2A～200nA, 共8檔
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參比電輸入阻抗：1012 W||20pF
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zui大輸出電流：5.0A
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槽壓：±15V
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電流掃描增量：1mA @1A/mS
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CV 和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s
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電位掃描時(shí)電位增量：0.1mV @1V/mS
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CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s
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DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
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SWV頻率：0.001～100KHz
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CV的zui小電位增量：0.075mV
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AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz，
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電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置
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DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1mS
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低通濾波器 ：8段可編程
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接口通訊模式：USB2.0
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電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)
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信號(hào)發(fā)生器
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頻率響應(yīng)：10mHz～115KHz(CS1310/CS1350)
10mHz～1MHz(CS1360)
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交流信號(hào)幅值：0mV～2500mV
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直流偏壓：-10～+10V
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DDS輸出阻抗：50W
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波形：正弦波，三角波，方波
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正弦波失真：<1%
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掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降
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zui大負(fù)載電容：1nF；zui大負(fù)載電感：10mH
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信號(hào)分析器
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積分時(shí)間：zui大值：106個(gè)循環(huán)或者105S
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測(cè)量時(shí)間延遲：0～105秒
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zui小值：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的長(zhǎng)時(shí)間
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直流偏置補(bǔ)償
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電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍：-10V～+10V
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電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A
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帶寬調(diào)整：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8可調(diào)
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CS系列儀器不同型號(hào)功能比較
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功 能 方 法
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CS1120
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CS1150
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CS1300
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CS1310
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CS1350
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CS1360
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穩(wěn)
態(tài)
化
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開路電位測(cè)量（OCP）
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恒電位化
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恒電流化
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動(dòng)電位掃描（DPP）
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動(dòng)電流掃描（DGP）
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暫
態(tài)
化
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任意恒電位方波
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任意恒電流方波
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多電位階躍（VSTEP）
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多電流階躍（ISTEP）
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快速電位脈沖
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快速電流脈沖
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計(jì)
時(shí)
分
析
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計(jì)時(shí)電位法（CP）
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計(jì)時(shí)電流法（CA）
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計(jì)時(shí)電量法（CC）
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伏
安
分
析
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線性掃描伏安法（LSV）
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循環(huán)伏安法（CV）
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階梯伏安法（SCV）
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差分脈沖伏安法（DPV）
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常規(guī)脈沖伏安法（NPV）
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方波伏安法（SWV）
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交流伏安法（ACV）
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常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）
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二次諧波交流伏安 (SHACV)
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溶
出
伏
安
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恒電位溶出伏安
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線性溶出伏安
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階梯溶出伏安
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方波溶出伏安
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交流溶出伏安
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交
流
阻
抗
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電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描
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電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描
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電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描
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腐
蝕
測(cè)
量
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循環(huán)化曲線（CPP）
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線性化曲線（LPR）
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電化學(xué)噪聲 (EN)
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電偶腐蝕測(cè)量 (ZRA)
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氫擴(kuò)散測(cè)試（HDT）
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電
池
測(cè)
試
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電池充放電測(cè)試
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恒電流充放電
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恒電流間歇充放電
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擴(kuò)
展
測(cè)
量
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盤環(huán)電測(cè)試
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數(shù)字記錄儀
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波形發(fā)生器
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圓盤電機(jī)控制
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注：* 氫滲透測(cè)試中主動(dòng)式充氫需要另行配置CS1001A恒流源使用或采用CS2350雙恒電位儀。
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