X熒光光譜儀 型號(hào)；HY-EDX600
HY- EDX600貴金屬檢測儀使用而的正比計(jì)數(shù)盒探測器，以實(shí)在的價(jià)格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且的具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩，使儀器操作人性化、方便。
性能特點(diǎn)
專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
指標(biāo)
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：1ppm。
分析含量一般為：1ppm到99.9％。
多次測量重復(fù)性可達(dá)：0.1％。
工作穩(wěn)定性為：0.1％。
標(biāo)準(zhǔn)配置
單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測器。
信號(hào)檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
應(yīng)用領(lǐng)域
、鉑、銀等貴金屬和飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
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