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HAD-XX-2型方塊電阻測(cè)試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品,測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的儀器.可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻
特點(diǎn):
1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量穩(wěn)定。
2、以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰
3、采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示
4、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配臺(tái)式探頭和特制之手握式探頭，對(duì)應(yīng)可采用臺(tái)式和手握式操作，使用簡(jiǎn)易
6、帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸指示(LED)
7、單電源開關(guān)，推拉式探頭－主機(jī)接插件，操作其簡(jiǎn)便。
指標(biāo)
測(cè)量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(Ω/口)
擴(kuò)展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(Ω/口)
測(cè)量不確定度≤5%
探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;緣電阻≥500 MΩ